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TP200系統(tǒng)組件包括:TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力:SF（標準測力）或LF（低測力）PI 200測頭接口SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
頂部特性與優(yōu)點應變片技術具有無可比擬的重復性和精確的三維輪廓測量零復位誤差無各向同性影響六向測量能力測針測量距離達100mm（GF測針）快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖壽命 >1 000萬次觸發(fā)
頂部TP200 / TP200B測頭本體
TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和精確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
頂部TP200規(guī)格
摘要 TP200 TP200B
| 主要應用 | 需要高精度的數(shù)控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。 |
| 傳感器方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
| 單向重復性 (2s µm) | 觸發(fā)水平1:0.40 µm觸發(fā)水平2:0.50 µm | 觸發(fā)水平1:0.40 µm觸發(fā)水平2:0.50 µm |
| XY（2D）輪廓形式測量偏差 | 觸發(fā)水平1:±0.80 µm觸發(fā)水平2:±0.90 µm | 觸發(fā)水平1:±1 µm觸發(fā)水平2:±1.2 µm |
| XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 觸發(fā)水平1:±1 µm觸發(fā)水平2:±1.40 µm | 觸發(fā)水平1:±2.50 µm觸發(fā)水平2:±4 µm |
| 測針交換的重復性 | SCR200:±0.50µm（最大）手動:±1µm（最大） | SCR200:±0.50µm（最大）手動:±1µm（最大） |
| 測力（測尖） | XY平面（所有模塊）:0.02 NZ軸（所有模塊）:0.07 N | XY平面（所有模塊）:0.02 NZ軸（所有模塊）:0.07 N |
| 超程測力（位移為0.50mm時） | XY平面（SF/EO模塊）:0.2 N至0.4 NXY平面（LF模塊）:0.1 N至0.15 NZ軸（SF/EO模塊）:4.90 NZ軸（LF模塊）:1.60 N | XY平面（SF/EO模塊）:0.2 N至0.4 NXY平面（LF模塊）:0.1 N至0.15 NZ軸（SF/EO模塊）:4.90 NZ軸（LF模塊）:1.60 N |
| 重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
| 最長加長桿（如配在PH10系列測座上） | 300mm | 300mm |
| 推薦的最大測針長度（M2測針系列） | SF/EO模塊:50mm鋼質至100mm GFLF模塊:20mm鋼質至50mm GF | SF/EO模塊:50mm鋼質至100mm GFLF模塊:20mm鋼質至50mm GF |
| 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
| 適合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
| 測針模塊交換架 | 自動:SCR200手動:MSR1 | 自動:SCR200手動:MSR1 |
| 測針系列 | M2 | M2 |
頂部TP200測針模塊
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。
模塊 SF（標準測力） LF（低測力） EO（長超程）
| 應用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用最小測力的場合。 | 額外超程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
| 留言 | 測針最長可達100mm，測球直徑 > 1mm。 | 測球直徑小于1mm。 | 與SF的超程測力相同。測頭Z軸的額外超程為8 mm。 |
頂部SCR200交換架
SCR200可對最多六個TP200測針模塊進行自動高速交換。SCR200由獨立的測頭接口 —PI200供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標準測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。
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