冷熱沖擊試驗(yàn)又名溫度沖擊試驗(yàn)或高低溫沖擊試驗(yàn)，將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣（或合適的惰性氣體）中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響，評(píng)估電子元器件或其它測(cè)試樣品經(jīng)溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境下所受之影響。

　　冷熱沖擊試驗(yàn)原理:

　　溫度急劇變化時(shí)，由于熱脹冷縮效應(yīng)引起交變應(yīng)力，造成材料開(kāi)裂、接觸不良、性能變化等現(xiàn)象。

　　冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)康?

　　冷熱沖擊試驗(yàn)主要驗(yàn)證樣品在高溫和低溫快速變化條件下使用和儲(chǔ)存的狀況，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

　　冷熱沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):

　　jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn) GJB 150.5A-2009

　　環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 2423.22-2012

　　環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分試驗(yàn) 試驗(yàn)N溫度變化 IEC 60068-2-14:2009