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　　光纖跳線的分類和概述如下光纖跳線（又稱光纖連接器），也就是接入光模塊的光纖接頭，也有好多種，且相互之間不可以互用。SFP模塊接LC光纖連接器，而GBIC接的是SC光纖連接器。下面對網(wǎng)絡(luò)工程中幾種常用的光纖連接器進(jìn)行詳細(xì)的說明:FC型光纖跳線:外部加強(qiáng)方式是采用金屬套，緊固方式為螺絲扣。一般在ODF側(cè)采用(配線架上用的多)SC型光纖跳線:連接GBIC光模塊的連接器，它的外殼呈矩形，緊固方式是采用插拔銷閂式，不須旋轉(zhuǎn)。(路由器交換機(jī)上用的多)

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　　會在一定張力下斷裂，如圖所示。光纖斷裂和應(yīng)力關(guān)系光纖的壽命光纖的壽命光纖的壽命，慣稱使用壽命，當(dāng)光纖損耗加大以致系統(tǒng)開通困難時，稱其已達(dá)到了使用壽命。從機(jī)械性能講，壽命指斷裂壽命。光纖的機(jī)械性）光纖的機(jī)械性一般來說，二氧化硅包層光纖的機(jī)械性已經(jīng)得到廣泛的。為了提高光纖的機(jī)械性，在光纖的外包層中摻入二氧化鈦，從而增加網(wǎng)絡(luò)的壽命。光纖的溫度特性，是指在高、低溫條件下對光纖損耗的影響，一般是

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　　光纖是用光導(dǎo)纖維作為信息傳輸介質(zhì)，傳輸信息時先把電信號轉(zhuǎn)換成光信號，接收后再把光信號轉(zhuǎn)換成電信號。光纖的制作材料為由能傳送光波的超細(xì)玻璃纖維，外包一層比玻璃折射率低的材料。進(jìn)入光纖的光波在兩種材料的界面上形成全反射，從而不斷地向前傳播。

　　光標(biāo)位置放置不當(dāng)光纖活動連接器、機(jī)械接頭和光纖中的斷裂都會引起損耗和反射，光纖末端的破裂端面由于末端端面的不規(guī)則性會產(chǎn)生各種菲涅爾反射峰或者不產(chǎn)生菲涅爾反射。如果光標(biāo)設(shè)置不夠準(zhǔn)確，也會產(chǎn)生一定誤差。熔接機(jī)顯示推斷衰耗與實際OTDR測試的區(qū)別從目前的熔接機(jī)情況看，熔接機(jī)所顯示的數(shù)據(jù)配合觀察光纖接頭斷面情況，能夠粗略估計光纖接續(xù)點損耗的狀況，但不能到目前我國所要求的光纖接續(xù)損耗的數(shù)量級。目前的熔接機(jī)接續(xù)是通過對光纖X軸和Y軸方向的錯位調(diào)整，在軸心錯位小時進(jìn)行熔接的，這種能調(diào)整軸心的方法稱為纖芯直視法，這種方法不同于功率檢測法，現(xiàn)場是無法知道接頭損耗確切數(shù)值的。但是在整個調(diào)整軸心和熔接接續(xù)過程中，通過攝像機(jī)把探測到所熔接纖芯狀態(tài)的信息送到熔接機(jī)的程序中，可以計算出接續(xù)后的損耗值。但它只能說明光纖軸心對準(zhǔn)的程度，并不含有光纖本身的固有特性所影響的損耗。而OTDR的測試方法是后向散射法，它包含有光纖參數(shù)的不同形成反射的損耗。比較上述兩種測試原理，兩者有很大區(qū)別。通過實踐明，兩種方法測出數(shù)據(jù)一致性也較差，通過近幾年對干線工程接續(xù)測試發(fā)現(xiàn)，很多情況下熔接機(jī)顯示損耗很小（小于0.05dB）甚至為零，但OTDR測試則大于0.08dB，且沒發(fā)現(xiàn)有對應(yīng)的規(guī)律?，F(xiàn)場接續(xù)接頭熔接衰耗標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)按OTDR測試值為準(zhǔn)。