濰坊優(yōu)質(zhì)皮線光纜品牌排名

　　對測試量程的設(shè)定，一般根據(jù)中繼段長度，選擇合適的量程，使整個中繼段曲線占據(jù)整個顯示屏幕的２／３為宜；測試波長根據(jù)系統(tǒng)采用的波長確定，對長途干線光纜一般為1310nm和1550nm折射率根據(jù)使用廠家的光纖折射率設(shè)定；脈沖寬度是一個重要的設(shè)置參數(shù)，脈沖寬度過小，測試的動態(tài)范圍太小，不能完整地測試整個曲線，表現(xiàn)為曲線末端噪聲信號大，所得到的曲線質(zhì)量差；脈沖寬度過大，測試的范圍越大，但測試的度越差，一般根據(jù)被測中繼段長度，選擇一個合適的測試脈沖寬度，既要考慮測試距離，還要考慮測試精度，通過試測，選擇一個合適的脈沖寬度；平均化時間的設(shè)定根據(jù)平均化的曲線質(zhì)量試驗確定，使平均化后的曲線尾端上無明顯毛刺即可。為了地確定線路上光纖故障點的位置，可利用OTDR分析軟件對儀表測試出的曲線進行分析，一般有接頭盒內(nèi)故障和纜身故障兩種情況。

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　　漸變型光纖:光纖中心芯到玻璃包層的折射率是逐漸變小，可使高模光按正弦形式傳播，這能減少模間散，提高光纖帶寬，增加傳輸距離，但成本較高，現(xiàn)在的多模光纖多為漸變型光纖。光纖制造與衰減:現(xiàn)在光纖制造方法主要有:管內(nèi)CVD（化學汽相沉積）法，棒內(nèi)CVD法，PCVD（等離子體化學汽相沉積）法和VAD（軸向汽相沉積）法。造成光纖衰減的主要因素有:本征，彎曲，擠壓，雜質(zhì)，不均勻和對接等。本征:是光纖的固有損耗，包括:瑞利散射，固有吸收等。彎曲:光纖彎曲時部分光纖內(nèi)的光會因散射而損失掉，造成的損耗。擠壓:光纖受到擠壓時產(chǎn)生微小的彎曲而造成的損耗。雜質(zhì):光纖內(nèi)雜質(zhì)吸收和散射在光纖中傳播的光，造成的損失。不均勻:光纖材料的折射率不均勻造成的損耗。對接:光纖對接時產(chǎn)生的損耗，如:不同軸（單模光纖同軸度要求小于0.8μm），端面與軸心不垂直，端面不平，對接心徑不匹配和熔接質(zhì)量差等。

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　　光纜的基本結(jié)構(gòu)一般是由纜芯、加強鋼絲、填充物和護套等幾部分組成，另外根據(jù)需要還有防水層、緩沖層、絕緣金屬導線等構(gòu)件。光纜由加強芯和纜芯、護套和外護層3部分組成。纜芯結(jié)構(gòu)有單芯型和多芯型兩種:單芯型有充實型和管束型兩種;多芯型有帶狀和單位式兩種。外護層有金屬鎧裝和非鎧裝兩種。

　　活動連接是利用各種光纖連接器件（插頭和插座），將站點與站點或站點與光纜連接起來的一種方法。這種方法靈活、簡單、方便、，多用在建筑物內(nèi)的計算機網(wǎng)絡(luò)布線中。其典型衰減為1dB/接頭。光纖檢測的主要目的是系統(tǒng)連接的質(zhì)量，減少故障因素以及故障時找出光纖的故障點。檢測方法很多，主要分為人工簡易測量和精密儀器測量。人工簡易測量:這種方法一般用于檢測光纖的通斷和施工時用來分辨所做的光纖。它是用一個簡易光源從光纖的一端打入可見光，從另一端觀察哪一根發(fā)光來實現(xiàn)。這種方法雖然簡便，但它不能定量測量光纖的衰減和光纖的斷點。